探針式輪廓儀/臺階儀

一款高精度表面形貌測量儀器，通過接觸式探針技術實現納米級垂直分辨率的臺階高度、粗糙度和三維形貌分析，廣泛應用于半導體、光學鍍膜及材料科學研究領域。
布魯克針Dektak XTL探針式輪廓儀對300mm尺寸樣品進行優化，用于質量保證/質量分析的探針式輪廓儀
布魯克DektakXT探針式輪廓儀(臺階儀)的行業金標準